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上海仪电物光显微熔点仪SGW® X-4A
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上海仪电物光显微熔点仪SGW® X-4A
熔点测量范围:室温至320℃ ;最小示值:0.1℃;熔点观察方式:单目显微镜
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商品介绍

规格参数

商品评价

售后服务

  • 商品名称:上海仪电物光显微熔点仪SGW® X-4A
  • 商品编号:ECS002129
  • 品牌:上海仪电物光
  • 商品毛重:0克

 

特点:

 
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
 
主要技术参数

熔点测量范围:室温至320℃ 
测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)
 

 
SGW®X-4
SGW®X-4A
SGW®X-4B
温度显示最小值
1
0.1
0.1
熔点观察方式
单目显微镜
单目显微镜
双目体视显微镜
光学放大倍数
40×
40×
40×-100×连续变倍

 
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